Browsing by Author "Rajchel, W."
Results Per Page
Sort Options
Item Mikrostruktura powłok formowanych metodą sputteringu jonowego(Institute of Nuclear Physics Polish Academy of Sciences, 2006) Rajchel, Bogusław; Kwiatkowska, Jadwiga; Biel-Gołaska, M.; Świątkowska, Żaneta; Mitura-Nowak, Marzena; Rajchel, W.; Strączek, Piotr; Rakowski, W.Wiązki jonów są wydajnym narzędziem do formowania złożonych powłok charakteryzujących się doskonałą adhezją do podłoża. W szczególności metody wykorzystujące wiązki jonów pozwalają uzyskać powłoki na bazie związków węgla, krzemu oraz azotu cechujące się atrakcyjnymi własnościami użytkowymi. W pracy zastosowano metodę Ion Beam Sputter Deposition (IBSD) do formowania powłok węglowych typu ta-C oraz powłok typu SiCX i SiXNY. Do określenia wiązań chemicznych a więc pośrednio mikrostruktury powłok zastosowano konfokalną mikrospektroskopię Ramanowską. Do określenia rozkładów głębokościowych poszczególnych pierwiastków w powłoce oraz w podłożu zastosowano metody spektroskopii jądrowej Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS) oraz Nuclear Reaction Analysis (NRA). Określono własności mechaniczne uformowanych układów. Uformowane powłoki charakteryzują się złożoną, zmieniającą się z głębokością mikrostrukturą powstałą w wyniku dynamicznych procesów zachodzących w silnie zjonizowanym ośrodku.Item Powłoki gradientowe formowane na bazie krzemu i azotu przy użyciu wiązek jonów(Institute of Nuclear Physics Polish Academy of Sciences, 2006) Rajchel, Bogusław; Kwiatkowska, Jadwiga; Wierzchoń, T.; Mitura-Nowak, Marzena; Rajchel, W.; Kowalski, Władysław; Skwirczyński, P.; Rakowski, W.Przy użyciu technik jonowych Ion Beam Sputter Deposition (IBSD) oraz Ion Beam Assisted Deposition (IBAD) formowano powłoki ochronne na bazie związków krzemu z azotem, poprawiające własności trybologiczne powierzchni. Powłoki formowano na powierzchniach próbek wykonanych ze stali 316L lub 3H13. Próbki stali, w formie walców lub w formie prostopadłościanów, wstępnie polerowano mechanicznie oraz azotowano. W celu ustalenia rozkładów głębokościowych koncentracji poszczególnych pierwiastków w uformowanej powłoce, w warstwie przejściowej oraz w podłożu zastosowano techniki jądrowe Rutherford Backscattering Spectroscopy i Nuclear Reaction Analysis (RBS/NRA). Do określenia wiązań chemicznych w uformowanych powłokach oraz warstwach przejściowych zastosowano konfokalną spektroskopię mikroramanowską. Dla uformowanych układów metodą micro-scratch-test wyznaczono ich własności mechaniczne.