Badanie właściwości termoluminescencyjnych polikrystalicznej struktury diamentowej wytworzonej metodą CVD w IFJ PAN
dc.contributor.author | Nowak, Tomasz | |
dc.contributor.author | Świątkowska, Żaneta | |
dc.contributor.author | Rajchel, Bogusław | |
dc.date.accessioned | 2018-01-12T08:38:07Z | |
dc.date.available | 2018-01-12T08:38:07Z | |
dc.date.issued | 2008 | |
dc.description.abstract | W IFJ PAN wytworzono strukturę diamentu polikrystalicznego na 2” podkładzie krzemowym o grubości 2 mm w reaktorze CVD produkcji Seki Technotron. Średnia grubość utworzonej warstwy wynosi 118.9 μm. W celu zbadania właściwości termoluminescencyjnych naświetlono strukturę dawkami z zakresu 0.25 - 60 Gy, stosując aparat Theratron 780E ze źródłem Co-60. Sygnał TL mierzono planarnym czytnikiem detektorów termoluminescencyjnych. Próbka charakteryzuje się rozrzutem czułości na poziomie 280%. W widmie termoluminescencyjnym zaobserwowano 2 wyraźne piki w temperaturze 96ºC, 220ºC. W przedziałach dawek 0.25 – 2 Gy oraz 20 – 60 Gy stwierdzono liniową zależność od dawki, po anilacji próbki w temperaturze 400ºC czułość zmniejszyła się. | pl_PL.UTF-8 |
dc.identifier.uri | http://rifj.ifj.edu.pl/handle/item/147 | |
dc.language.iso | pol | pl_PL.UTF-8 |
dc.publisher | Institute of Nuclear Physics Polish Academy of Sciences | pl_PL.UTF-8 |
dc.relation.ispartofseries | Raport IFJ PAN;2024/D | |
dc.title | Badanie właściwości termoluminescencyjnych polikrystalicznej struktury diamentowej wytworzonej metodą CVD w IFJ PAN | pl_PL.UTF-8 |
dc.type | Report | pl_PL.UTF-8 |