Badanie właściwości termoluminescencyjnych polikrystalicznej struktury diamentowej wytworzonej metodą CVD w IFJ PAN

Abstract

W IFJ PAN wytworzono strukturę diamentu polikrystalicznego na 2” podkładzie krzemowym o grubości 2 mm w reaktorze CVD produkcji Seki Technotron. Średnia grubość utworzonej warstwy wynosi 118.9 μm. W celu zbadania właściwości termoluminescencyjnych naświetlono strukturę dawkami z zakresu 0.25 - 60 Gy, stosując aparat Theratron 780E ze źródłem Co-60. Sygnał TL mierzono planarnym czytnikiem detektorów termoluminescencyjnych. Próbka charakteryzuje się rozrzutem czułości na poziomie 280%. W widmie termoluminescencyjnym zaobserwowano 2 wyraźne piki w temperaturze 96ºC, 220ºC. W przedziałach dawek 0.25 – 2 Gy oraz 20 – 60 Gy stwierdzono liniową zależność od dawki, po anilacji próbki w temperaturze 400ºC czułość zmniejszyła się.