Metoda mikrotomografii komputerowej dla układu mikrowiązki promieniowania X w zastosowaniu do wyznaczania porowatości i powierzchni właściwej skał

Bielecki, Jakub; Bożek, Sebastian; Lekki, Janusz; Stachura, Zbigniew; Jarzyna, Jadwiga; Kwiatek, Wojciech M.

DSpace Home
→
Publikacje
→
Raporty IFJ PAN
→
View Item

dc.contributor.author	Bielecki, Jakub
dc.contributor.author	Bożek, Sebastian
dc.contributor.author	Lekki, Janusz
dc.contributor.author	Stachura, Zbigniew
dc.contributor.author	Jarzyna, Jadwiga
dc.contributor.author	Kwiatek, Wojciech M.
dc.date.accessioned	2018-01-11T14:18:36Z
dc.date.available	2018-01-11T14:18:36Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.uri	http://rifj.ifj.edu.pl/handle/item/136
dc.description.abstract	Celem pracy było opracowanie metodyki pomiarów wybranych własności fizycznych próbek geologicznych metodą mikrotomografii komputerowej. Badania zostały wykonane w Instytucie Fizyki Jądrowej PAN z wykorzystaniem układu mikrowiązki promieniowania X przy współpracy z Katedrą Geofizyki WGGiOŚ Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie. Przedstawione zostały wstępne wyniki pomiarów porowatości i powierzchni właściwej przestrzeni porowych dla próbki skały piaskowca wydobytego z otworu CG5 na głębokości 2680 m. Omówiona została metoda segmentacji obrazów tomograficznych oraz algorytmy cyfrowej analizy danych tomograficznych. Praca przedstawia możliwości zastosowania metody mikrotomogarfii komputerowej o wysokiej przestrzennej zdolności rozdzielczej w połączeniu z metodami cyfrowej analizy danych do badania materiałów porowatych.	pl_PL.UTF-8
dc.language.iso	pol	pl_PL.UTF-8
dc.publisher	Institute of Nuclear Physics Polish Academy of Sciences	pl_PL.UTF-8
dc.relation.ispartofseries	Raport IFJ PAN;2034/AP
dc.title	Metoda mikrotomografii komputerowej dla układu mikrowiązki promieniowania X w zastosowaniu do wyznaczania porowatości i powierzchni właściwej skał	pl_PL.UTF-8
dc.type	Report	pl_PL.UTF-8